Cpk 与 Sigma Level 转换工具

输入样件数、每件缺陷机会和缺陷数，系统会自动计算 DPMO、合格率、短期 Sigma Level 和对应 Cpk。你也可以直接输入 Cpk 或 Sigma Level 做快速换算，用于理解过程能力、缺陷率和六西格玛水平之间的关系。

把缺陷数据转换成更容易沟通的过程能力指标

本工具采用常见六西格玛教学口径：先由 DPMO 推算 Z 值，再加 1.5σ 漂移得到 Sigma Level；并以 Sigma Level ÷ 3 估算 Cpk。不同组织可能采用不同口径，实际报告时应说明计算假设。

适合从抽样或检查数据出发，计算 DPMO、合格率、Sigma Level 和 Cpk。

总样件数
Total number of units

每个样件的缺陷机会数
Opportunities for defects in one unit

缺陷数量
Number of defects

仪表盘显示 Sigma Level，下面列出 DPMO、合格率和 Cpk。

0.00 Sigma Level

每百万次机会缺陷数 DPMO 0

合格率 Yield 0%

过程能力指数 Cpk 0.00

过程表现解释 -

这里采用简化关系：Sigma Level ≈ 3 × Cpk。

输入 Cpk

Cpk 转换结果：

1.33 Cpk ≈ 3.99 Sigma Level

输入 Sigma Level

Sigma 转换结果：

4.00 Sigma Level ≈ 1.33 Cpk

以下为简化学习参考，实际项目应结合规格、数据分布、过程稳定性和组织计算口径。

教学提醒：DPMO 与 Sigma Level 适合描述缺陷机会层面的表现；Cpk 则更直接关联规格界限、均值位置和过程波动。若过程不稳定或数据不服从假设分布，单独看 Cpk 可能会误导判断。

适合希望系统掌握 DMAIC、基础统计、质量工具与改善项目方法的学员。

适合希望深入学习项目领导、统计分析、DOE、SPC 与完整 DMAIC 改善路线的学员。